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Substratos de Wafer de Nitruró de Aluminio

Los diámetros estándar de wafer de nitruró de aluminio de Innovacera van desde 50,8 mm (2 pulgadas) hasta 200 mm (8 pulgadas); la mayoría se utilizan wafers de nitruró de aluminio de 6″ y substratos de wafer de AlN de 8″. Los wafers de AlN pueden producirse en varios espesores desde 0,125 mm hasta 1 mm con lados pulidos o lapados, también están disponibles tamaños personalizados o solicitudes específicas.

Nitruró de Aluminio (AIN) los materiales desempeñan un papel importante en la industria semiconductora, la similitud de su perfil térmico con el del silicio ha hecho de esta una elección ideal para aplicaciones semiconductoras relacionadas con wafers. Los wafers de nitruró de aluminio de Innovacera tienen alta fiabilidad para chip de Si y ciclos térmicos de calor.

Según la tecnología de unión directa de wafer, los wafers semiconductores pulidos pueden unirse sin adhesivos. La unión directa de wafer requiere superficies muy planas y altamente lisas (Ra≤0,05 µm), los substratos de wafer de AlN de Innovacera cumplen con este requisito.

Características

  • Alto punto de fusión
  • Alta aislamiento eléctrico
  • Bajo constante dieléctrica
  • Mayor resistencia mecánica
  • Superior resistencia a la corrosión contra metales fundidos
  • Estabilidad térmica y química
  • Alta conductividad térmica (170-220 W/m·K)
  • Coeficiente de expansión térmica similar al del silicio (Si)

Propiedades

Propiedades Unidad AN170 AN230 AN99 AN999
Color Gris Beige Gris Beige
Contenido de ALN ≥95% ≥96% ≥99% ≥99,9%
Densidad en volumen g/cm3 ≥3,30 ≥3,28 ≥3,26 ≥3,25
Resistencia a la flexión MPa ≥400 ≥300 ≥300 ≥300
Resistencia a la compresión MPa 2500 2000 2000 2000
Hv 500g Gpa 10,5 9,0 9,0 9,0
Módulo de Young Gpa 300 300 280 280
Conductividad térmica (@20°C) W/m·K ≥170 ≥220 ~100 ~90
Calor específico KJ/(Kg·K) 0,74 0,73 0,73 0,73
C.T.E (r.t.-400°C) 10⁻⁶/K 4,6 4,6 4,6 4,6
Resistencia de volumen Ω·cm 20°C ≥10¹⁴ ≥10¹³ ≥10¹⁰ ≥10¹⁰
Fuerza dieléctrica KV/mm ≥16 ≥15 ≥15 ≥15
Constante dieléctrica (@1MHz) 8,6 8,6 8,6 8,6
Tangente de pérdida (@1MHz) ×10-4 5 5 5 5

Especificaciones de wafers de AlN

Propiedades Unidad Wafer de 6″ Wafer de 8″
Material Cerámica de AlN Cerámica de AlN
Conductividad térmica W/m·K >170 >170
Coeficiente de expansión térmica ppm/K (300~1200K) 4-6 4-6
Ayudante de sinterización Y2O3 Y2O3
Diámetro mm 150 +/-0,25 200 +/-0,25
Profundidad del surco mm 1,0+0,25/-0/Lado de localización 1,0+0,25/-0
Ángulo del surco 90°+5/-2° 90°+5/-2°
Espesor µm 400±15 400±15
TTV µm <10 <10
BOW µm <±30 <±30
Deformación µm <50 <50
Ra nm <50 <50

Aplicaciones

  • Manufactura de semiconductores
  • Amplificador de potencia de microondas
  • Módulos de RF de potencia y conmutación
  • Electrónica de potencia de alta temperatura
  • Dispositivos optoelectrónicos de dispersión de diodo láser
  • Dispositivos electrónicos de alta potencia y alta frecuencia
  • Módulos de potencia MOSFET, IGBT
  • Paquetes LED para enfriamiento y protección de circuitos

Declaración: Este es un artículo original de INNOVACERA®. Por favor, indique el enlace de origen al reimprimir: https://www.innovacera.com/es/product/aluminum-nitride-wafer-substrates.