采用氧化铝或碳化硅陶瓷制造，基准方尺经精密加工、研磨及几何检验，以实现测量面的微米级直线度与方度。四窗轻量化框架有效降低整体重量，同时保持高结构刚性，有助于最小化自重变形，使方尺更易安装、翻转及用于不同朝向的比较测量。
陶瓷基准方尺本身不显示测量值，通常与电子比较仪、百分表、感应探头、气动量仪探头、三坐标测量仪测头或其他位移传感器配合使用。典型应用包括精密机床、三坐标测量仪、半导体设备及自动化测量平台的安装、调整与周期性几何精度检测。
产品特性：
- 微米级几何精度
- 高刚性轻量化结构
- 卓越的耐磨性
- 防锈耐腐蚀
- 非磁性设计
- 良好的尺寸稳定性
- 支持定制制造
规格参数：
| 型号 | 尺寸(长×高×宽) | 直线度 | 方度 | 重量 |
|---|---|---|---|---|
| INV202050-SG | 200 × 200 × 50 mm | < 1.5 μm | < 1.5 μm | 3.5 kg |
| INV353550-SG | 350 × 350 × 50 mm | < 1.5 μm | < 1.5 μm | 8.1 kg |
| INV404050-SG | 400 × 400 × 50 mm | < 1.5 μm | < 1.5 μm | 11 kg |
| INV454550-SG | 450 × 450 × 50 mm | < 2 μm | < 2 μm | 12.5 kg |
| INV505055-SG | 500 × 500 × 55 mm | < 2 μm | < 2 μm | — |
| 定制尺寸 | 最大1000×400×50mm | < 2 μm | < 2 μm | 按设计 |
主要应用场景：
- 精密机床几何精度检测
- 三坐标测量仪及计量设备
- 半导体及精密自动化设备
- 工件与精密夹具检测
典型测量方法：
比对测量
将陶瓷基准方尺稳固放置在精密平板上，沿测量面移动测头。通过记录不同位置的指示器变化量，可评估运动轴或测量面的直线度及角度偏差。
翻转测量
改变安装朝向或将基准方尺旋转180度，有助于分离方尺固有误差与设备运动误差，提高几何误差分析可靠性。
多轴方度检测
以精密测量面为基准，相邻表面建立90度参考，用于检测两设备运动轴间的方度。
为精密设备选择合适的几何基准
提供所需尺寸、材料、测量面、精度等级及应用细节，我们将为您推荐适用的陶瓷基准方尺解决方案。
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常见问题
与传统花岗岩或钢材相比，陶瓷基准方尺有何优势？可否向制造商订购定制尺寸？
相比钢材或花岗岩，采用高纯氧化铝或碳化硅制造的陶瓷基准方尺具有卓越的尺寸稳定性、零锈蚀/耐腐蚀特性、非磁性及高耐磨性。其轻量化四窗框架显著降低自重变形，确保在多轴机床及三坐标测量仪检测中保持稳定的微米级直线度与方度（< 1.5–2 μm）。作为专业陶瓷制造商，Innovacera提供标准型号（200×200 mm至500×500 mm）及定制工程（最大1000×400×50 mm），满足您的计量夹具与轴行程需求。
陶瓷基准方尺如何用于多轴方度校准？如何选择合适型号并向供应商申请报价？
陶瓷基准方尺作为90度物理基准，配合位移传感器（如电子比较仪或三坐标测量仪测头），通过比对与翻转测量方法，将运动误差与方度偏差分离。选购时需根据设备行程、精度公差及安装朝向选择尺寸，可直接联系Innovacera获取技术咨询及快速报价，提交目标尺寸、工作环境及公差等级即可。
